識(shí)別卡 測(cè)試方法 第1部分:一般特性測(cè)試 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 17554.1-2006 |
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：43.0 元 |
客戶(hù)評(píng)分：  |
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本標(biāo)準(zhǔn)有現(xiàn)貨可當(dāng)天發(fā)貨一線(xiàn)城市最快隔天可到！ |
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了符合GB/T14916-2006所定義識(shí)別卡特性的一些測(cè)試方法，本部分定義了為一種或多種卡技術(shù)所共有的測(cè)試方法。 |
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| 英文名稱(chēng)： |
Identification cards—Test methods—Part 1:General characteristics tests |
 替代情況： |
被GB/T 17554.1-2025代替;替代GB/T 17554-1998 |
| 中標(biāo)分類(lèi)： |
>>>>
>>>>64 |
| ICS分類(lèi)： |
信息技術(shù)、辦公機(jī)械設(shè)備>>信息技術(shù)應(yīng)用>>35.240.15識(shí)別卡和有關(guān)裝置 |
| 采標(biāo)情況： |
ISO/IEC 10373-1:1998,MOD |
| 發(fā)布部門(mén)： |
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
| 發(fā)布日期： |
2006-03-14 |
| 實(shí)施日期： |
2006-07-01
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| 作廢日期： |
2025-09-01
即將作廢 距離作廢日期還有149天
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| 首發(fā)日期： |
1998-11-05 |
| 提出單位： |
中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部 |
| 歸口單位： |
全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì) |
| 主管部門(mén)： |
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
| 起草單位： |
中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所 |
| 起草人： |
馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩 |
| 計(jì)劃單號(hào)： |
20010188-T-339 |
| 頁(yè)數(shù)： |
平裝16 開(kāi)， 頁(yè)數(shù)：19， 字?jǐn)?shù)：35千字 |
| 出版社： |
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
| 出版日期： |
2006-07-01 |
| 標(biāo)準(zhǔn)前頁(yè)： |
瀏覽標(biāo)準(zhǔn)前文 || 下載標(biāo)準(zhǔn)前頁(yè) |
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GB/T17554《識(shí)別卡測(cè)試方法》擬分為7個(gè)部分:
-第1部分:一般特性測(cè)試
-第2部分:磁條卡
-第3部分:帶觸點(diǎn)的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備
-第4部分:無(wú)觸點(diǎn)集成電路卡
-第5部分:光記憶卡
-第6部分:接近式卡
-第7部分:鄰近式卡
本部分為GB/T17554的第I部分,修改采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC10373-1:1998《識(shí)別卡測(cè)試方法第1部分:一般特性測(cè)試》(英文版)。
本部分與ISO/IEC10373-1:1998相比,存在如下少量技術(shù)性差異:
-根據(jù)新版識(shí)別卡物理特性標(biāo)準(zhǔn),本部分增加了5.16抗熱度測(cè)試方法。
本部分與GB/T17554-1998相比主要變化如下:
a)增加了5.16抗熱度測(cè)試方法;
6)刪除了第6章帶觸點(diǎn)的集成電路卡。
本部分由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出。
本部分由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。
本部分起草單位:中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所。
本部分主要起草人:馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩
本部分從實(shí)施之日起,同時(shí)替代GB/T17554-1998((識(shí)別卡測(cè)試方法》。 |
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下列文件中的條款通過(guò)GB/T17554的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。
GB/T131-1993機(jī)械制圖表面粗糙度符號(hào)、代號(hào)及其注法(eqvISO1302;1992)
GB/T1690-1992硫化橡膠耐液體實(shí)驗(yàn)方法(neqISO1817;1985)
GB/T3922-1995紡織品耐汗?jié)n色牢度實(shí)驗(yàn)方法(eqvISO105/E04:1994)
GB/T11500-1989攝影透射密度測(cè)量的幾何條件(neqISO5-2;1985)
GB/T14916-2006識(shí)別卡物理特性(ISO/IEC7810:2003,IDT)
GB/T17552-1998識(shí)別卡金融交易卡(idtISO/IEC7813:1995)
GB/T16649.1-2006識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡第1部分:物理特性(ISO/IEC7816-1;1998,MOD)
GB/T10125-1997人造氣氛腐蝕試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)(eqvISO9227:1990)
GB/T17553.1-1998識(shí)別卡無(wú)觸點(diǎn)集成電路卡第1部分:物理特性(idtISO/IEC10536-1: 1992)
GB/T17550.3-1998識(shí)別卡光記憶卡線(xiàn)性記錄方法第3部分:光屬性和特性(idtISO/IEC11694-3;1995)
ISO/IEC7811-1:1995識(shí)別卡記錄技術(shù)第1部分:凸印
ISO/IEC7811-2;1995識(shí)別卡記錄技術(shù)第2部分:磁條
ISO/IEC7811-6:1996識(shí)別卡記錄技術(shù)第6部分:高矯頑力磁條 |
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