微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法 |
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| 標準編號：GB/T 15244-2013 |
標準狀態：現行 |
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| 標準價格：29.0 元 |
客戶評分：  |
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本標準規定了電子探針儀(EPMA)和掃描電子顯微鏡(SEM)的X 射線波譜儀(WDS)和能譜儀(EDS)對硅酸鹽玻璃的定量分析方法。
本標準適用于硅酸鹽玻璃試樣(包括堿金屬的硅酸鹽玻璃)的波譜法(WDX)和能譜法(EDX)的定量分析。 |
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| 英文名稱： |
Microbeam analysis—Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry |
 替代情況： |
替代GB/T 15244-2002 |
| 中標分類： |
化工>>化工綜合>>G04基礎標準與通用方法 |
| ICS分類： |
化工技術>>分析化學>>71.040.40化學分析 |
| 發布部門： |
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會 |
| 發布日期： |
2013-07-19 |
| 實施日期： |
2014-03-01
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| 提出單位： |
全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38) |
| 歸口單位： |
全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38) |
| 主管部門： |
全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38) |
| 起草單位： |
中國科學院上海硅酸鹽研究所 |
| 起草人： |
李香庭、曾毅、吳偉 |
| 頁數： |
12頁 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |
| 出版日期： |
2014-03-01 |
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本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準代替GB/T15244—2002《玻璃的電子探針定量分析方法》
本標準與GB/T15244—2002相比主要內容變化如下:
———增加了標準樣品的選擇原則(見5.1和5.2);
———刪除5.3中(K-44)和(K-45);
———增加了試樣制備后的要求(見6.1);
———修改了試樣和標準樣品蒸鍍導電膜的具體要求(見6.3);
———修改了儀器定量分析前開機時間的要求(見7.1.1);
———增加了“分析區域較大時,也可以用電子探針的同軸光學顯微鏡確定分析部位”(見7.14);
———加速電壓選擇中增加了過壓比的要求,修改了不同原子序數的加速電壓選擇方法(見7.2.1);
———增加了硅漂移能譜儀(SDD)的束流選擇方法(見7.2.2);
———增加了用電子束掃描的方法分析不穩定玻璃(見7.2.3);
———修改了X射線線系的原子序數選擇范圍(見7.2.4);
———增加了SDD能譜儀的測量條件(見7.3.3);
———增加了X射線強度在測量時間內變化量小于1%的要求(見7.3.5);
———增加了輕元素的差值法測量(見8.2);
———增加了無標樣EDS定量分析方法(見8.4)。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準起草單位:中國科學院上海硅酸鹽研究所。
本標準主要起草人:李香庭、曾毅、吳偉。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況為:
———GB/T15244—2002。 |
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下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
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