靜電復印光導體表面缺陷測量方法 |
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| 標準編號：JB/T 8268-2015 |
標準狀態：現行 |
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| 標準價格：12.0 元 |
客戶評分：  |
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本標準規定了靜電復印光導體表面缺陷的測量條件、測量方法及測量報告。
本標準適用于靜電復印（打印、傳真、多功能）設備用的光導體的外觀質量及背景印跡的測量。 |
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| 英文名稱： |
Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process |
 替代情況： |
替代JB/T 8268-1999 |
| 中標分類： |
儀器、儀表>>電影、照相、縮微、復印設備>>N47縮微復印機械 |
| ICS分類： |
成像技術>>印制技術>>37.100.10印刷、復制設備 |
| 發布部門： |
中華人民共和國工業和信息化部 |
| 發布日期： |
2015-04-30 |
| 實施日期： |
2015-10-01
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| 提出單位： |
中國機械工業聯合會 |
| 歸口單位： |
全國復印機械標準化技術委員會（SAC/TC 147） |
| 主管部門： |
全國復印機械標準化技術委員會（SAC/TC 147） |
| 起草單位： |
天津復印技術研究所、珠海天威飛馬打印耗材有限公司、夏普辦公設備（常熟）有限公司等 |
| 起草人： |
劉慧玲、張希平、王強、劉生應、魯麗平、陳挺、仇相如、麥洪琦、陳頌昌、魯俊和 |
| 批文號： |
49779-2015 |
| 出版社： |
機械工業出版社 |
| 出版日期： |
2015-10-01 |
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本標準按照GB/T 1.1-2009給出的規則起草。
本標準代替JB/T 8268-1999《靜電復印感光體表面缺陷測量方法》，與JB/T 8268-1999相比主要技術變化如下：
——修改了標準名稱，感光體改為光導體；
——將適用范圍中的感光體改為光導體，刪除了硒鼓、硫化鎘鼓等已不再使用的感光體，刪除了反光鏡可參照使用（見第1章，1999年版的第1章）；
——修改了規范性引用文件（見第2章，1999年版的第2章）；
——修改了測量環境條件（見3.1，1999年版的3.1）；
——將有效測量范圍放入了測量方法中，刪除了測量范圍示意圖（見4.1.2，1999年版的3.2和圖1）；
——增加了測試用樣機的要求（見3.2）；
——修改了測量方法的編排格式（見第4章，1999年版的第4章）；
——修改了目視檢查的方法（見4.1，1999年版的4.1），刪除了目視檢查鼓表面示意圖（見1999年版的圖2）；
——把缺陷版檢查改為對比測量，并修改了檢查方法（見4.2，1999年版的4.2）；
——修改了背景印跡的測量方法（見4.3，1999年版的4.3）；
本標準由中國機械工業聯合會提出。
本標準由全國復印機械標準化技術委員會（SAC/TC 147）歸口。
本標準起草單位：天津復印技術研究所、珠海天威飛馬打印耗材有限公司、夏普辦公設備（常熟）有限公司、理光圖像技術（上海）有限公司深圳分公司、湖北鼎龍化學股份有限公司、柯尼卡美能達（中國）投資有限公司、上海富士施樂有限公司、兄弟（中國）商業有限公司、東芝泰格信息系統（深圳）有限公司、佳能（中國）有限公司。
本標準主要起草人：劉慧玲、張希平、王強、劉生應、魯麗平、陳挺、仇相如、麥洪琦、陳頌昌、魯俊和。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況為：
——JB/T 8268-1995（GB 10996-1989）、JB/T 8268-1999。 |
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下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。
JB/T 8271 靜電復印光導體表面缺陷比對版
JB/T 8273 靜電復印全黑測試版 |
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