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標準簡介

本標準規定了電子測量儀器的質量檢驗規則。包括檢驗分類、檢驗分組、檢驗項目、抽樣方法、檢驗方法、以及判定規則。本標準適用于電子測量儀器和儀器附件。


英文名稱：	Quality inspection provisions for electronic measuring instruments
標準狀態：	已作廢
替代情況：	GB 6593-1986;被GB/T 6587-2012代替
中標分類：	電子元器件與信息技術>>電子測量與儀器>>L85電子測量與儀器綜合
ICS分類：	計量學和測量、物理現象>>電學、磁學、電和磁的測量>>17.220.20電和磁量值的測量
發布部門：	國家技術監督局
發布日期：	1996-01-02
實施日期：	1997-07-01
作廢日期：	2013-06-01
首發日期：	1986-07-23
復審日期：	2004-10-14
提出單位：	中斷中華人民共和國電子工業部
歸口單位：	全國電子測量儀器標準化技術委員會
主管部門：	信息產業部（電子）
起草單位：	電子部標準化所
起草人：	屠德彤、趙中義、陳志達、歐陽小年
頁數：	10頁
出版社：	中國標準出版社
書號：	155066.1-13944
出版日期：	2004-08-26
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GB/T 6833.1-1986 電子測量儀器電磁兼容性試驗規范總則
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GB/T 6833.5-1987 電子測量儀器電磁兼容性試驗規范輻射敏感度試驗
GB/T 6833.6-1987 電子測量儀器電磁兼容性試驗規范傳導敏感度試驗
GB/T 6833.7-1987 電子測量儀器電磁兼容性試驗規范非工作狀態磁場干擾試驗
GB/T 6833.8-1987 電子測量儀器電磁兼容性試驗規范工作狀態磁場干擾試驗
GB/T 6833.9-1987 電子測量儀器電磁兼容性試驗規范傳導干擾試驗
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