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標準編號 標準名稱 發布部門 實施日期 狀態  GB/T 10050-1988  光學和光學儀器 參考波長 中國機械工業聯合會 1989-07-01 作廢  GB/T 10050-2009  光學和光學儀器 參考波長 國家質量監督檢驗檢疫. 2009-12-01 現行  GB/T 10248-1988  氣體分析 校準用混合氣體的制備 靜態體積法 1989-07-01 作廢  GB/T 10248-2005  氣體分析 校準用混合氣體的制備 靜態體積法 國家質量監督檢驗檢疫. 2005-12-01 現行  GB/T 10988-2009  光學系統雜(散)光測量方法 國家質量監督檢驗檢疫. 2009-12-01 現行  GB/T 11153-2012  激光小功率計性能檢測方法 國家質量監督檢驗檢疫. 2013-06-01 現行  GB/T 11162-2009  光學分劃零件通用技術條件 國家質量監督檢驗檢疫. 2009-12-01 現行  GB 11168-1989  光學系統像質 測試方法 中國機械工業聯合會 1989-05-01 作廢  GB/T 11168-2009  光學系統像質測試方法 國家質量監督檢驗檢疫. 2009-12-01 現行  GB/T 1185-1989  光學零件表面疵病 中國機械工業聯合會 1990-01-01 作廢  GB/T 1204-1975  光學零件的倒角 中國機械工業聯合會 1976-01-01 作廢  GB 1205-1975  透鏡邊緣及中心最小厚度 中國機械工業聯合會 1976-01-01 作廢  GB 12085.1-1989  光學和光學儀器環境試驗方法 試驗范圍術語 國家技術監督局 1990-08-01 作廢  GB/T 12085.1-2010  光學和光學儀器　環境試驗方法　第1部分：術語、試驗范圍 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-05-01 作廢  GB/T 12085.1-2022  光學和光子學 環境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍 國家市場監督管理總局. 2023-05-01 現行  GB 12085.10-1989  光學和光學儀器環境試驗方法 綜合振動(正弦)與高溫或低溫 國家技術監督局 1990-08-01 作廢  GB/T 12085.10-2010  光學和光學儀器　環境試驗方法　第10部分：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-05-01 作廢  GB 12085.11-1989  光學和光學儀器環境試驗方法 長霉 國家技術監督局 1990-08-01 作廢  GB/T 12085.11-2010  光學和光學儀器　環境試驗方法　第11部分：長霉 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-05-01 作廢  GB/T 12085.11-2022  光學和光子學 環境試驗方法 第11部分：長霉 國家市場監督管理總局. 2023-05-01 現行  GB 12085.12-1989  光學和光學儀器環境試驗方法 污染 國家技術監督局 1990-08-01 作廢  GB/T 12085.12-2010  光學和光學儀器　環境試驗方法　第12部分：污染 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-05-01 作廢  GB/T 12085.12-2022  光學和光子學 環境試驗方法 第12部分：污染 國家市場監督管理總局. 2023-05-01 現行  GB 12085.13-1989  光學和光學儀器環境試驗方法 綜合沖擊、碰撞或自由跌落與高溫或低溫 國家技術監督局 1990-08-01 作廢  GB/T 12085.13-2010  光學和光學儀器　環境試驗方法　第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-05-01 作廢  GB 12085.14-1989  光學和光學儀器環境試驗方法 露、霜、冰 國家技術監督局 1990-08-01 作廢  GB/T 12085.14-2010  光學和光學儀器　環境試驗方法　第14部分：露、霜、冰 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-05-01 作廢  GB/T 12085.14-2022  光學和光子學 環境試驗方法 第14部分：露、霜、冰 國家市場監督管理總局. 2023-05-01 現行  GB/T 12085.15-1995  光學和光學儀器 環境試驗方法 寬帶隨機振動(中再現性)與高溫、低溫綜合試驗 國家技術監督局 1996-08-01 作廢  GB/T 12085.15-2010  光學和光學儀器　環境試驗方法　第15部分：寬帶隨機振動（數字控制）與高溫、低溫綜合試驗 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-05-01 作廢  GB/T 12085.16-1995  光學和光學儀器 環境試驗方法 彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗 國家技術監督局 1996-08-01 作廢  GB/T 12085.16-2010  光學和光學儀器　環境試驗方法　第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-05-01 作廢  GB/T 12085.17-1995  光學和光學儀器 環境試驗方法 污染與太陽輻射綜合試驗 國家技術監督局 1996-08-01 作廢  GB/T 12085.17-2011  光學和光學儀器 環境試驗方法 第17部分 污染、太陽輻射綜合試驗 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-11-01 作廢  GB/T 12085.17-2022  光學和光子學 環境試驗方法 第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗 國家市場監督管理總局. 2023-05-01 現行  GB/T 12085.18-2011  光學和光學儀器 環境試驗方法 第18部分：濕熱、低內壓綜合試驗 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-11-01 作廢  GB/T 12085.19-2011  光學和光學儀器 環境試驗方法 第19部分：溫度周期與正弦振動、隨機振動綜合試驗 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-11-01 作廢  GB 12085.2-1989  光學和光學儀器環境試驗方法 低溫、高溫、濕熱 國家技術監督局 1990-08-01 作廢  GB/T 12085.2-2010  光學和光學儀器　環境試驗方法　第2部分：低溫、高溫、濕熱 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-05-01 作廢  GB/T 12085.2-2022  光學和光子學 環境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱 國家市場監督管理總局. 2023-05-01 現行

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