光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第12部分:污染 |
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標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 12085.12-2010 |
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):已作廢 |
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標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:29.0 元 |
客戶評(píng)分:     |
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本標(biāo)準(zhǔn)有現(xiàn)貨可當(dāng)天發(fā)貨一線城市最快隔天可到! |
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本部分規(guī)定了污染試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。
本部分中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學(xué)物質(zhì)1)(以下稱試劑)同光學(xué)儀器的接觸。
本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
1) 不包括放射性元素和同位素及危險(xiǎn)性化學(xué)物質(zhì)如2,2-二氧二乙硫醚。
本部分不適用于作為正常的生產(chǎn)控制。
本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯績(jī)x器,尤其是儀器的表面、涂層或合成材料短時(shí)間內(nèi)暴露在試劑中的抵抗能力。
試驗(yàn)通常只用于在使用期有可能遭受污染的儀器選擇材料或元件時(shí)參考。 |
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英文名稱: |
Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 12:Contamination |
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài): |
已作廢 |
替代情況: |
替代GB/T 12085.12-1989;被GB/T 12085.12-2022代替 |
中標(biāo)分類: |
儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合 |
ICS分類: |
成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備 |
采標(biāo)情況: |
MOD ISO 9022-12:1994 |
發(fā)布部門: |
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) |
發(fā)布日期: |
2011-01-14 |
實(shí)施日期: |
2011-05-01
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作廢日期: |
2023-05-01
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首發(fā)日期: |
1989-12-29 |
提出單位: |
中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì) |
歸口單位: |
全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103) |
主管部門: |
全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103) |
起草單位: |
上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司 |
起草人: |
章慧賢、馮瓊輝、曾麗珠、葉慧 |
頁數(shù): |
12頁 |
出版社: |
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 |
出版日期: |
2011-05-01 |
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GB/T12085《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法》分為以下16個(gè)部分:
———第1部分:術(shù)語、試驗(yàn)范圍;
———第2部分:低溫、高溫、濕熱;
———第3部分:機(jī)械作用力;
———第4部分:鹽霧;
———第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗(yàn);
———第6部分:砂塵;
———第7部分:滴水、淋雨;
———第8部分:高壓、低壓、浸沒;
———第9部分:太陽輻射;
———第10部分:振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn);
———第11部分:長(zhǎng)霉;
———第12部分:污染;
———第13部分:沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn);
———第14部分:露、霜、冰;
———第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn);
———第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)。
本部分為GB/T12085的第12部分。
本部分修改采用ISO9022-12:1994《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第12部分:污染》。
本部分與ISO9022-12:1994的主要差異如下:
———?jiǎng)h除國際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言;
———根據(jù)ISO9022-12第1章及我國標(biāo)準(zhǔn)用語習(xí)慣作了重新編寫;
———“國際標(biāo)準(zhǔn)本部分”一詞改為“本部分”。
本部分代替GB/T12085.12—1989《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 污染》,與GB/T12085.12—1989的主要差異為:
———合并了范圍與試驗(yàn)?zāi)康?
———增加了試驗(yàn)程序的總則,規(guī)定了相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的依據(jù);
———增加了環(huán)境試驗(yàn)的標(biāo)記名稱,修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)的編寫;
———調(diào)整了附錄A 的標(biāo)準(zhǔn)編寫結(jié)構(gòu)。
本部分的附錄A 為規(guī)范性附錄。
本部分由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。
本部分由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC103)歸口。
本部分起草單位:上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司。
本部分主要起草人:章慧賢、馮瓊輝、曾麗珠、葉慧。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T12085.12—1989。 |
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下列文件中的條款通過GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。
GB/T12085.1 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:術(shù)語、試驗(yàn)范圍(GB/T12085.1―2010,ISO9022-1:1994,MOD) |
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