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半導體探測器X射線能譜儀通則

國家標準
標準編號:GB/T 20726-2006 標準狀態:已作廢
標準價格:24.0 客戶評分:星星星星1
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標準簡介
本標準規定了表征以半導體探測器、前置放大器和信號處理系統為基本構成的X射線能譜儀特性最重要的量值。
英文名稱:  Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
標準狀態:  已作廢
什么是替代情況? 替代情況:  GB/T 20726-2015代替
什么是中標分類? 中標分類:  儀器、儀表>>光學儀器>>N33電子光學與其他物理光學儀器
什么是ICS分類?  ICS分類:  化工技術>>分析化學>>71.040.99有關化學分析方
什么是采標情況? 采標情況:  等同ISO 15632-2002
發布部門:  中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
發布日期:  2006-12-25
實施日期:  2007-08-01
作廢日期:  2016-09-01
首發日期:  2006-12-25
提出單位:  全國微束分析標準化技術委員會
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國微束分析標準化技術委員會
主管部門:  國家標準化管理委員會
起草單位:  中國科學院地質與地球物理研究所
起草人:  曾榮樹、徐文東、毛騫、馬玉光、范光
計劃單號:  20030762-T-469
頁數:  平裝16開 頁數:11, 字數:14千字
出版社:  中國標準出版社
出版日期:  2007-08-01
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