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 您的位置:工標網 >> 標準分類 >> 中標分類 >> N儀器、儀表 >> N30/39 光學儀器 >> N33電子光學與其他物理光學儀器 購書咨詢:400-7255 888(免長話費) 
標準編號 標準名稱 發布部門 實施日期 狀態
 GB/T 19500-2004  X-射線光電子能譜分析方法通則 國家質量監督檢驗檢疫. 2004-12-01 現行
 GB/T 20175-2006  表面化學分析 濺射深度剖析 用層狀膜系為參考物質的優化方法 國家標準化管理委員. 2006-11-01 現行
 GB/T 20176-2006  表面化學分析 二次離子質譜 用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度 國家標準化管理委員. 2006-11-01 現行
 GB/T 20307-2006  納米級長度的掃描電鏡測量方法通則 國家質量監督檢驗檢疫. 2007-02-01 現行
 GB/T 20726-2006  半導體探測器X射線能譜儀通則 國家質量監督檢驗檢疫. 2007-08-01 作廢
 GB/T 23414-2009  微束分析 掃描電子顯微術 術語 國家標準化管理委員. 2009-12-01 現行
 GB/T 26533-2011  俄歇電子能譜分析方法通則 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-12-01 現行
 GB 2986-1982  平面光柵攝譜儀基本參數系列 1982-12-01 作廢
 GB/T 30543-2014  納米技術 單壁碳納米管的透射電子顯微術表征方法 國家質量監督檢驗檢疫. 2014-11-01 現行
 GB/T 32525-2016  光電跟蹤測量設備通用規范 國家質量監督檢驗檢疫. 2016-09-01 現行
 GB/T 32526-2016  方位垂直傳遞裝置通用規范 國家質量監督檢驗檢疫. 2016-09-01 現行
 GB/T 32869-2016  納米技術 單壁碳納米管的掃描電子顯微術和能量色散X射線譜表征方法 國家質量監督檢驗檢疫. 2017-03-01 現行
 GB/T 34831-2017  納米技術 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環形暗場法 國家質量監督檢驗檢疫. 2018-05-01 現行
 GB/T 34831-2017E  納米技術 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環形暗場法（英文版） 國家質量監督檢驗檢疫. 2018-05-01 現行
 GB/T 3719-1988  工具顯微鏡 中國機械工業聯合會 1989-01-01 作廢
 GB/T 42208-2022  納米技術 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法 國家市場監督管理總局. 2023-07-01 現行
 GB/T 43087-2023  微束分析 分析電子顯微術 層狀材料截面像中界面位置的確定方法 國家市場監督管理總局. 2024-04-01 現行
 GB/T 43610-2023  微束分析 分析電子顯微術 線狀晶體表觀生長方向的透射電子顯微術測定方法 國家市場監督管理總局. 2024-07-01 現行
 GB/T 43748-2024  微束分析 透射電子顯微術 集成電路芯片中功能薄膜層厚度的測定方法 國家市場監督管理總局. 2024-10-01 現行
 GB/T 43883-2024  微束分析 分析電子顯微術 金屬中納米顆粒數密度的測定方法 國家市場監督管理總局. 2024-11-01 現行
 GB 4930-1985  電子探針分析標準樣品通用技術條件 1985-10-01 作廢
 GB/T 6360-1995  激光功率能量測試儀器規范 國家技術監督局 1996-01-01 現行
 GB 7247.1-2001  激光產品的安全 第1部分：設備分類、要求和用戶指南 國家質量監督檢驗檢疫. 2002-05-01 作廢
 GB 7667-1996  電子顯微鏡X射線泄漏劑量 國家技術監督局 1996-12-01 作廢
 GB 7667-2003  電子顯微鏡X射線泄漏劑量 國家質量監督檢驗檢疫. 2004-05-01 廢止
 JB/T 10573-2006  工具顯微鏡 2006-10-11 作廢
 JB/T 11144-2011  X射線衍射儀 工業和信息化部 2012-04-01 現行
 JB/T 11145-2011  X射線熒光光譜儀 工業和信息化部 2012-04-01 現行
 JB/T 5383-1991  透射電子顯微鏡 技術條件 機械工業部 1992-07-01 廢止
 JB/T 5384-1991  掃描電子顯微鏡 技術條件 上海電子光學技術所 1992-07-01 廢止
 JB/T 5476-1991  旋光糖量計 機械電子工業部 1992-07-01 廢止
 JB/T 5478-1991  手動掃描光電直讀光譜儀 機械電子工業部 1992-07-01 廢止
 JB/T 5480-1991  電子顯微鏡用光闌 機械電子工業部 1992-07-01 作廢
 JB/T 5481-1991  電子顯微鏡用燈絲 機械電子工業部 1992-07-01 廢止
 JB/T 5482-1991  X射線定向儀技術條件 1992-07-01 作廢
 JB/T 5482-2004  X射線晶體定向儀 技術條件 國家發展和改革委員會 2004-11-01 作廢
 JB/T 5521-1991  光學傳遞函數 用于望遠鏡 上海光學儀器所 1992-07-01 現行
 JB/T 5522-1991  光學傳遞函數 用于35mm照相機用可換鏡頭 機械電子工業部 1992-07-01 現行
 JB/T 5584-1991  透射電子顯微鏡 放大率測試方法 機械電子工業部 1992-07-01 廢止
 JB/T 5585-1991  透射電子顯微鏡 分辨力測試方法 機械工業部 1992-07-01 廢止
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