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光學(xué)零件的面形偏差

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 2831-2009 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:41.0 客戶評分:星星星星1
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)零部件面形偏差的術(shù)語和定義、公差及檢驗(yàn)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于使用光學(xué)樣板的等厚干涉方法及干涉儀方法檢驗(yàn)光學(xué)零部件的面形偏差。
英文名稱:  Surface form deviation of optical elements
什么是替代情況? 替代情況:  替代GB/T 2831-1981
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合
什么是ICS分類?  ICS分類:  成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
什么是采標(biāo)情況? 采標(biāo)情況:  ISO 10110-5:2007 NEQ
發(fā)布部門:  中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
發(fā)布日期:  2009-11-15
實(shí)施日期:  2010-02-01
首發(fā)日期:  1981-12-28
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)
主管部門:  全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)
起草單位:  寧波永新光學(xué)股份有限公司、上海光學(xué)精密機(jī)械研究所、上海理工大學(xué)、鳳凰光學(xué)集團(tuán)有限公司、江南永新光學(xué)有限公司、蘇州一光儀器有限公司。
起草人:  曾麗珠、徐德衍、章慧賢、馮瓊輝、鄔子剛
計(jì)劃單號:  20061746-T-604
頁數(shù):  28頁【彩圖】
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
出版日期:  2010-02-01
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前言
本標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)ISO10110-5:2007《光學(xué)和光子學(xué) 光學(xué)零件和光學(xué)系統(tǒng)圖樣 第5部分:面形公差》,與ISO10110-5:2007的一致性程度為非等效。
本標(biāo)準(zhǔn)與ISO10110-5:2007的主要差異:
---刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言;
---增加了術(shù)語和定義;
---增加了光圈識別檢驗(yàn)方法;
---增加了面形偏差的未注公差規(guī)定;
---增加了不規(guī)則干涉條紋判讀及有關(guān)數(shù)字干涉條紋解析內(nèi)容。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 2831-1981《光學(xué)零件面形偏差的檢驗(yàn)方法(光圈識別法)》,本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T2831-1981的主要差異為:
---修改了標(biāo)準(zhǔn)名稱;
---增加了術(shù)語和定義,明確了PV 值及rms值的定義;
---增加了面形偏差的公差的單位規(guī)定;
---增加了面形偏差的畫圖表示,并修改了面形偏差的表示方法及表示位置;
---增加了未注公差的標(biāo)注規(guī)定;
---增加了數(shù)字化PV 值及rms值的測量問題;
---將換算公式、光圈識別方法放入附錄A 和附錄B;
---增加了不規(guī)則干涉條紋判讀及數(shù)字干涉條紋解析,并將其內(nèi)容放入附錄C。
本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A 是規(guī)范性附錄,附錄B、附錄C 和附錄D 是資料性附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC103)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:寧波永新光學(xué)股份有限公司、上海光學(xué)精密機(jī)械研究所、上海理工大學(xué)、鳳凰光學(xué)集團(tuán)有限公司、江南永新光學(xué)有限公司、蘇州一光儀器有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:浙江舜宇集團(tuán)股份有限公司、寧波華光精密儀器有限公司、寧波市教學(xué)儀器有限公司、麥克奧迪實(shí)業(yè)集團(tuán)有限公司、貴陽新天光電科技有限公司、梧州奧卡光學(xué)儀器公司、南京東利來光電實(shí)業(yè)有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:曾麗珠、徐德衍、章慧賢、馮瓊輝、鄔子剛。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
---GB/T2831-1981。
目錄
前言Ⅰ
1 范圍1
2 規(guī)范性引用文件1
3 術(shù)語和定義1
4 面形偏差的公差規(guī)定2
5 標(biāo)注方法3
6 公差標(biāo)注示例4
7 檢驗(yàn)方法5
附錄A (規(guī)范性附錄) 弧矢偏差的公差與曲率半徑公差間的換算8
附錄B (資料性附錄) 光圈度量9
附錄C (資料性附錄) 使用干涉儀判讀不規(guī)則干涉條紋18
附錄D (資料性附錄) PV 值、rms值及Power值與其他參數(shù)的關(guān)系22
參考文獻(xiàn)23
引用標(biāo)準(zhǔn)
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
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