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標準簡介

本標準規定了電子探針分析儀的檢測條件、技術要求、檢測方法、判別原則與檢測周期。本標準適用于使用中、修理后用X射線波長分光譜儀進行素分析的電子探針分析儀的檢測。配有波譜儀的掃描電子顯微鏡的檢測可參照執行。


英文名稱：	Method for testing EPMA instrument
標準狀態：	已作廢
中標分類：	儀器、儀表>>光學儀器>>N33電子光學與其他物理光學儀器
ICS分類：	計量學和測量、物理現象>>光學和光學測量>>17.180.30光學測量儀器
UDC分類：	621.317.7;620.1
發布部門：	國家技術監督局
發布日期：	1994-05-09
實施日期：	1994-01-02
作廢日期：	2005-10-14
首發日期：	1994-05-09
復審日期：	2004-10-14
歸口單位：	全國微束分析標準化技術委員會
主管部門：	國家標準化管理委員會
起草單位：	北京地質院
頁數：	平裝16開，頁數：6，字數：8千字
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電子光學與其他物理光學儀器相關標準	第1頁第2頁第3頁第4頁
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