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| 英文名稱： |
General specification of X-ray EDS quantitative analysis for EPMA and SEM |
| 標準狀態： |
已作廢 |
 替代情況： |
被GB/T 17359-2012代替 |
| 中標分類： |
儀器、儀表>>光學儀器>>N33電子光學與其他物理光學儀器 |
| ICS分類： |
成像技術>>37.020光學設備 |
| 發布部門： |
國家質量技術監督局 |
| 發布日期： |
1998-05-08 |
| 實施日期： |
1998-12-01
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| 作廢日期： |
2013-02-01
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| 首發日期： |
1998-05-08 |
| 復審日期： |
2004-10-14 |
| 提出單位： |
全國微束分析標準化技術委員會 |
| 歸口單位： |
全國微束分析標準化技術委員會 |
| 主管部門： |
國家標準化管理委員會 |
| 起草單位： |
中國有色金屬工業總公司北京有色金屬研究總院、地礦部地質科學研究院礦床地質研究所、核工業部北京地質研究院 |
| 起草人： |
劉安生、周劍雄、張宜 |
| 頁數： |
9頁 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |
| 書號： |
155066.1-15359 |
| 出版日期： |
1998-11-01 |
| 標準前頁： |
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