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標準簡介

本標準規定了半導體單晶晶向X射線衍射定向和光圖定向的方法。本標準適用于測定半導體單晶材料大致平行于低指數原子面的晶體的表面取向。


英文名稱：	Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
標準狀態：	已作廢
替代情況：	替代GB 1555-1979;GB 1556-1979;GB 5254-1985;GB 5255-1985;GB 8759-1988;被GB/T 1555-2009代替
中標分類：	冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
ICS分類：	電氣工程>>29.045半導體材料
采標情況：	＝ASTM F26-87a
發布部門：	國家技術監督局
發布日期：	1997-01-02
實施日期：	1998-08-01
作廢日期：	2010-06-01
首發日期：	1979-05-26
復審日期：	2004-10-14
歸口單位：	全國半導體材料和設備標準化技術委員會
主管部門：	國家標準化管理委員會
起草單位：	峨嵋半導體材料廠
頁數：	平裝16開，頁數：8，字數：12千字
出版社：	中國標準出版社
書號：	155066.1-14909
出版日期：	2004-04-01
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