透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法 |
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| 標準編號：GB/T 18907-2002 |
標準狀態：已作廢 |
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| 標準價格：31.0 元 |
客戶評分：  |
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本標準規定了用透射電子顯微鏡對薄晶體試樣微米級區域進行選區電子衍射分析的方法。本標準適用于各種金屬與非金屬晶體薄膜（包括粉末試樣與萃取復型試樣）的電子衍射分析�？煞治龅淖钚≡嚇訁^直徑為1 μm。應用電子衍射譜可以獲得試樣晶體對稱性、點陣常數和布拉菲格式類型等數據。利用已知晶體薄膜的電子衍射譜可以測定透射電子顯微鏡的衍射常數。被分析試樣區直徑小于1 μm時，可參照執行。 |
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