|
| 英文名稱： |
General specification of nanometer thin STANDARD specimen for analytical transmission electron microscopy (AEM/EDS) |
| 標準狀態： |
已作廢 |
 替代情況： |
被GB/T 18735-2014代替 |
| 中標分類： |
儀器、儀表>>光學儀器>>N33電子光學與其他物理光學儀器 |
| ICS分類： |
成像技術>>37.020光學設備 |
| 發布部門： |
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 |
| 發布日期： |
2002-05-22 |
| 實施日期： |
2002-12-01
|
| 作廢日期： |
2015-03-01
|
| 首發日期： |
2002-05-22 |
| 復審日期： |
2004-10-14 |
| 提出單位： |
全國微束分析標準化技術委員會 |
| 歸口單位： |
全國微束分析標準化技術委員會 |
| 主管部門： |
國家標準化管理委員會 |
| 起草單位： |
武漢理工大學、中科院廣州地球化學研究所 |
| 起草人： |
孫振亞、劉永康 |
| 頁數： |
平裝16開， 頁數：6， 字數：10千字 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |
| 書號： |
155066.1-19035 |
| 出版日期： |
2002-12-01 |
| 標準前頁： |
瀏覽標準前文 || 下載標準前頁 |
|