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黃金制品鍍層成分的 X 射線能譜測量方法
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：
GB/T 17723-1999
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：
已作廢
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：
8.0
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用掃描電鏡X射線能譜儀（包括裝有X射線能譜儀的電子探針儀）對(duì)鍍金制品表面金及金合金單層均勻鍍層成分的非破壞性分析測量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于表面鍍金及金合金，其鍍層厚度為0.2μm以上，3μm以下范圍內(nèi)的成分測量(不包括基體和金鍍層材料相近的鍍層成分的測量)。
英文名稱：
Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：
已作廢
替代情況：
被
GB/T 17362-2008
代替
中標(biāo)分類：
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光學(xué)儀器
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ICS分類：
成像技術(shù)
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37.020光學(xué)設(shè)備
發(fā)布部門：
國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期：
1999-04-01
實(shí)施日期：
1999-01-02
作廢日期：
2009-05-01
首發(fā)日期：
1999-04-11
復(fù)審日期：
2004-10-14
歸口單位：
全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位：
北京有色金屬研究總院
頁數(shù)：
平裝16開， 頁數(shù)：7， 字?jǐn)?shù)：10千字
出版社：
中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
書號(hào)：
155066.1-15976
出版日期：
2004-04-16
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