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| 英文名稱： |
Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis |
 中標分類： |
儀器、儀表>>光學儀器>>N33電子光學與其他物理光學儀器 |
| ICS分類： |
成像技術>>37.020光學設備 |
| 發(fā)布部門： |
國家標準化管理委員會 |
| 發(fā)布日期： |
1998-05-08 |
| 實施日期： |
1998-01-02
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| 首發(fā)日期： |
1998-05-08 |
| 復審日期： |
2004-10-14 |
| 歸口單位： |
全國微束分析標準化技術委員會 |
| 主管部門： |
國家標準化管理委員會 |
| 起草單位： |
冶金部鋼鐵研究總院和中科院金屬所 |
| 頁數(shù)： |
5頁 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |
| 書號： |
155066.1-15165 |
| 出版日期： |
2004-04-12 |
| 標準前頁： |
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