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金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法

國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 17722-1999 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各類金制品的金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法的技術(shù)要求,本標(biāo)準(zhǔn)也適用于電子探針儀測(cè)量金覆蓋層厚度,適用的厚度測(cè)量范圍為0.2~10um。其他金屬材料的覆蓋層厚度的測(cè)量也可參照?qǐng)?zhí)行。
英文名稱:  Gold-plated thickness measurement by SEM
什么是中標(biāo)分類? 中標(biāo)分類:  儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
什么是ICS分類?  ICS分類:  成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
發(fā)布部門:  國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:  1999-04-01
實(shí)施日期:  1999-01-02
首發(fā)日期:  1999-04-11
復(fù)審日期:  2004-10-14
什么是歸口單位? 歸口單位:  全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門:  國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位:  中國科學(xué)院北京科儀研制中心
頁數(shù):  平裝16開, 頁數(shù):7, 字?jǐn)?shù):10千字
出版社:  中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
書號(hào):  155066.1-15975
出版日期:  2004-04-16
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