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標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 17360-1998	標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢

標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：10.0 元	客戶(hù)評(píng)分：

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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低合金鋼和碳鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法——標(biāo)定曲線法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶波譜儀的掃描電鏡。


英文名稱(chēng)：	Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：	已作廢
替代情況：	被GB/T 17360-2008代替
中標(biāo)分類(lèi)：	儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
ICS分類(lèi)：	成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
發(fā)布部門(mén)：	國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期：	1998-05-08
實(shí)施日期：	1998-01-02
作廢日期：	2009-03-01
首發(fā)日期：	1998-05-08
復(fù)審日期：	2004-10-14
提出單位：	全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
歸口單位：	全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門(mén)：	國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位：	中國(guó)科學(xué)院金屬研究所
起草人：	尚玉華、徐樂(lè)英
頁(yè)數(shù)：	平裝16開(kāi)，頁(yè)數(shù)：8，字?jǐn)?shù)：10千字
出版社：	中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
書(shū)號(hào)：	155066.1-15225
出版日期：	2004-04-12
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